如何提高蔡司三坐標的測量效率，相信這是困擾每個質量工程師的長期難題。

　　德國蔡司三坐標測量專家Nadine Schwab先生，基于自己的多年測量行業經驗，總結出了提升測量效率的7個小技巧。本系列文章將帶領大家共同探究測量效率提升的奧秘。前三期文章分別是金剛石探針縮短非生產時間(查看更多)，采用更穩定的探針系統提升測量速度(查看更多)和利用校準裝置簡化測針系統的設計。本期給大家帶來的是：

　　低效根因 – 蔡司探針系統設計

　　在Schwab先生的日常工作中，他發現即使測量人員使用了擁有*高性能的蔡司三坐標測量機，檢測效率仍然可能遇到瓶頸。其中一個常見的原因是，當工程師需要測量多個不同尺寸的工件時，每次因更換夾具而耗費在裝載和校準的時間，通常預估會在15分鐘左右。如果測量時間與上述調整時間大致相同，則約50%的測量時間被白白浪費在重復性的裝載和校準工作。

　　高效武器 – 托盤

　　事實上，當蔡司三坐標測量人員對檢測效率要求較高時，托盤是一種簡單但會經常被低估的解決方案。當測量機處在檢測過程中，操作者可以將下一組工件提前安裝到遠離測量機位置的閑置托盤上，由于托盤的定位系統，工件可以在幾秒鐘內被快速安裝到測量機上，大大節省每次更換被測工件的時間。

　　例如，根據Schwab先生的經驗，使用校準托盤便可以顯著節省測量時間，尤其是在首次測量前的校準工序。測量人員可以直接將配備標準球，參考環和光學玻璃量規的校準托盤放置在工作平臺上，然后啟動已經設定好的測量程序即可完成校準工作。該方法可以有效的節省組裝時間，實現簡單、快速的進行校準工作。

　　蔡司根據用戶不同的使用場景，推出了針對不同機型的托盤附件產品，例如針對蔡司O-INSPECT復合式測量機的多款托盤附件產品，如玻璃托盤(固定式和角度調節式)，金屬不透明托盤和校準托盤等。托盤附件可以有效解決用戶在實際測量中的三大困擾： 1.機器原有玻璃平臺易劃傷或碰損，2.工件裝卡或校準器具重復安裝耗時費力，影響測量效率 3.測量結果被光感工件的折射光干擾。

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